技術(shù)文章
當(dāng)前位置：
主頁 >
技術(shù)文章 > 揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)的測量
揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)的測量
更新時間：2017-08-15 點(diǎn)擊次數(shù)：3852
揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)用戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)的需求選擇各種標(biāo)準(zhǔn)，包括與平均值的偏離情況，高值的偏離和許多其他常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)識，如系統(tǒng)斷電等，這種帶有日期、時間和類型的標(biāo)識會被記錄，并且在日常的數(shù)據(jù)修復(fù)時打印出來。每個循環(huán)進(jìn)行的自動零點(diǎn)和漂移標(biāo)定可以確保可靠而的測量，當(dāng)儀器出現(xiàn)故障，錯誤標(biāo)識會被存儲且數(shù)據(jù)視為無效。零點(diǎn)測試是在每個循環(huán)開始和結(jié)束時進(jìn)行的，β射線法揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)在測量空白過濾紙時仍可以保持正常輸出。漂移測量是通過在測量路徑上自動插入一張參比膜來實(shí)現(xiàn)的。
揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)工作原理，系統(tǒng)通過先進(jìn)的β射線法微處理器系統(tǒng)控制，實(shí)現(xiàn)全自動化測量。在開始采樣時，發(fā)射的β射線通過一個過濾帶的清潔面測量，然后該過濾帶截面被推至采樣口，粒子物質(zhì)被吸入采樣口并且沉淀在濾紙上，當(dāng)采樣結(jié)束后，過濾帶返回到其原始位置，再重新測量透過截面的β射線，通過兩種測量結(jié)果的不同，從而準(zhǔn)確的得出粒子濃度。應(yīng)用這種β射線衰減的原理測量質(zhì)量粒子密度，一個小的14C射線源（β射線）連接一個靈敏的用來計算發(fā)射的β粒子的探測器。該過濾帶放置在β射線源和探測器之間，當(dāng)沉淀在過濾帶上的粒子增加時，探測器上測到的β粒子便會減少。
揚(yáng)塵監(jiān)測系統(tǒng)應(yīng)用β射線測試法檢測，粉塵粒子吸收β射線的量與粉塵粒子的質(zhì)量成正比關(guān)系，根據(jù)粉塵粒子的吸收β射線的多少，計測出粉塵的質(zhì)量濃度（mg/m3）。不會因環(huán)境中粉塵粒子大小及顏色而導(dǎo)致檢測的數(shù)值出現(xiàn)偏差?？煽焖贉y塵、直讀數(shù)據(jù)，操作簡便。利用沖擊原理采樣。沖擊過后的粉塵粒子將被均勻采集，從而確保樣品的全面性、科學(xué)性。
